一、膜厚仪可以测镀层厚度吗？
现在已经有很多种采取仪器进行厚度丈量的方法。比如采取探头或测试头等对镀层进行直接丈量的测厚仪，其事理有磁性法、涡流法、β射线反向散射法、荧光X射线法等。
常用的便携式膜厚仪紧张采取的便是磁性法以及涡流法。
运用磁性法的膜厚仪可以快速、准确的无损检测各种涂覆在磁性金属基底上的非磁性涂层厚度。如在钢铁、镍材表面的镀铬层、镀铜层、镀锌层、油漆层、喷粉层等，均可用Fe基探头进行丈量。
而运用涡流法的膜厚仪可以快速、准确的无损测定各种涂覆在非磁性金属基底上的各种不导电的涂层厚度，如在如铝、铜、黄铜、不锈钢等材料表面的油漆层、喷粉层、涂瓷层等，用NFe基探头检测。
如果用户想要丈量镀层厚度，首先就要考虑基材是磁性还是非磁性，然后选定不同的测试方法来进行检测。
二、膜厚仪检测镀层厚度的事理：
磁性测厚法是利用被测试样与标准磁体之间的吸引力的变革来转换成镀层的厚度。这种方法只能适用于对磁性能敏感的基体上的非磁性镀层，如钢铁基体上的铜、锌、锡等镀层。钢件上的镍镀层就不能很好地丈量出结果。
磁性测厚法的优点是对钢铁基体上的非磁性镀层供应了一种快速的丈量方法，其准确度可达85%-90%。丈量样件的粗糙度对丈量结果有影响。如果被测件的基体很薄时，比如样片厚度低于0.25mm时，会有较大丈量偏差，这时可以在样片后另加一个与基体材料相同的厚一些的无镀层材料来减少偏差。
磁性法的缺陷是受磁性能哀求的限定，以是适应于该方法的基体材料和镀层有限。
所谓涡流测厚是通过探针使基体为导电材料表面一定深度内发生瞬间震荡电流回路。涡流电路的强度受镀层的厚度和基体材料的导电性能的影响。当镀层减薄时，会有更高的涡流电流利过基体，而当镀层增厚时，通过基体的电流强度会减弱，据此可以打算出镀层厚度。
涡流法可以用于金属材料基体上的金属或非金属镀层的测厚，也可以用于非金属材料上的金属镀层的测厚，并且是非毁坏性测厚法，因而也是运用较广的一种测厚法。特殊是在涂料层的测厚运用更多，对镀层较薄时的偏差会较大。
