专利择要显示,本发明公开了一种小体积、一体式高低温测试设备,包括机架本体、事情仓本体和高低温机组,所述机架本体内具有装置空间,所述装置空间内由上至下依次设置有为芯片测试供应温度环境的事情仓本体、为事情仓本体内供应温度可预设且可掌握的高低温机组,所述机架本体包括上机架、翻盖门和下机架,所述上机架与所述下机架之间可拆卸连接,所述上机架上开设有翻盖窗口,所述翻盖门以可拆卸构造连接在所述翻盖窗口上,所述事情仓本体通过所述上机架设置在所述装置空间内的上部区域,所述高低温机组通过下机架设置在所述装置空间内的下部区域。本发明是针对多品种、小批量生产的、便于改换治具。
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